Röntgendiffraktometer XRD 3000

 

Die grundlegende Erforschung und Entwicklung von Werkstoffen erfordert detaillierte Kenntnisse über Phasenzusammensetzungen und Spannungszustände. Hierzu eignet sich insbesondere die Analyse mittels der Röntgendiffraktometrie (XRD). Das Funktionsprinzip des Röntgendiffraktometers XRD 3000, GE Energy Germany GmbH, Ratingen, Germany, beruht auf dem physikalischen Effekt der Röntgenstrahlbeugung an Kristallstrukturen. Die Anlage lässt eine röntgenographische Analyse von pulverförmigen Werkstoffen und Schichtsystemen bei Raumtemperatur und bis zu T = 1.600 °C in Vakuum und an definierter Atmosphäre zu. Ein vom Röntgenrohr gesendetes und an einem Kristallgitter gebeugtes Strahlbündel ruft im Detektor eine bestimmte Intensität hervor. Beim Durchfahren eines vordefinierten Winkelbereiches wird nach den Glanzwinkeln gesucht, die durch Intensitätsmaxima erkennbar sind. Diese Winkel sind charakteristisch für die Netzebenenabstände der Proben, womit die Phasenbestimmung ermöglicht wird. Neben der klassischen Textur- und Phasenanalyse können zudem mittels einer Hochtemperaturkammer Aussagen über die in-situ Phasen- und Oxidationsstabilität getroffen werden.

Technische Daten:

Parameter, [Einheit]	Wert
Wellenlänge Cu-Röhre, λCu [Å]	1,540598
Wellenlänge Co-Röhre, λCo [Å]	1,789007
Max. Röhrenspannung, U [kV]	60
Max. Röhrenstrom, I [mA]	50
Winkelbereich Theta-Achse, θ [°]	0-120