Investigations on the substrate bias influence on reactive HPPMS plasmas
Bobzin, Kirsten; Brögelmann, Tobias; Kruppe, Nathan Christopher; Engels, Martin Gottfried (Corresponding author)
Amsterdam [u.a.] : Elsevier (2018)
Fachzeitschriftenartikel
In: Thin solid films
Band: 663
Seite(n)/Artikel-Nr.: 62-72
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1016/j.tsf.2018.07.048
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-2018-227769